Общие концепции, установленные настоящим стандартом, критическое значение отклика, критическое значение приведенной переменной состояния и минимального обнаруживаемого значения приведенной переменной состояния (см. 3.9—3.11) относятся к различным ситуациям, таким как проверка наличия некоторого вещества в материале, излучение энергии из образцов или растений или изменение геометрии статических систем при деформации.

Критические значения отклика или приведенной переменной для оценки неизвестных состояний системы, включенных в серию, могут быть определены на основе реальной серии измерений, учитывая,

что минимальное обнаруживаемое значение приведенной переменной состояния, как характеристика метода измерений, используется для выбора соответствующего процесса измерений. Минимальное обнаруживаемое значение может быть установлено в качестве характеристики процесса измерений, лаборатории или метода измерений, если доступны соответствующие данные для каждого уровня, то есть серии измерений, процесса измерений, лаборатории или метода измерений. Минимальные обнаруживаемые значения могут быть различны для серии измерений, процесса измерений, лаборатории или метода измерений. Настоящий стандарт применяют к количественным величинам, измеренным в соответствии с непрерывной шкалой, процессам измерений и типам измерительного оборудования, для которых функциональную связь между математическим ожиданием отклика и переменной состояния

описывают функцией калибровки.

Если отклик или переменная состояния являются векторной величиной, то настоящий стандарт применяют отдельно к компонентам или функциям компонента векторной величины.

Примеры применения терминов приведены в приложении А.