1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Последние поступления
Всего доступных документов: 70827
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Полупроводниковые приборы - Каталог ТУ
Номер:

ГАВЛ.431260.024 ТБ

Название: Микросхема интегральная серии 5507. Таблица норм.
Страниц: 6
Описание ГАВЛ.431260.024 ТБ: Настоящая таблица устанавливает нормы электрических параметров, значения напряжений питания и тестовых напряжений, подаваемых на выводы микросхем, при контроле микросхем 5507БЦ1У-ХХХ АЕЯР.431260.227 ТУ, 5507БЦ2У-ХХХ АЕЯР.431260.228 ТУ, Н5507БЦ5У-ХХХ АЕЯР.431260.230 ТУ и 5507БЦ7У-ХХХ АЕЯР.431260.231 ТУ цехом, ОТК и ВП на пластине и в корпусе.

Нормы электрических параметров приведены для проведения функционального контроля и проверки электрических параметров микросхем на автоматизированной измерительной системе НР82000-D50 или на любой другой измерительной системе, обеспечивающей данные виды контроля с требуемой точностью.

Функциональный контроль микросхем проводится в соответствии с картой заказа данной микросхемы.

Контроль динамических характеристик проводится при наличии требований в карте заказа на закорпусированных микросхемах в нормальных условиях (НУ) по нормам, обеспечивающим соответствие параметров требованиям карты заказа.

Контроль выходного напряжения высокого и низкого уровня при токе нагрузки 30 мкА не проводится. Соответствие данного параметра требованиям ТУ обеспечивается конструкцией кристалла, измерениями ICC, а также измерениями UOH, UOL при токе нагрузки 1,5 мА и 3 мА соответственно.

Тест стрессовых воздействий добавляется только в штатную цеховую программу контроля пластин после контроля контактирования.

ГАВЛ.431260.024 ТБ расположен в разделе: Полупроводниковые приборы - Каталог ТУ. [Открыть]
Файлы документа в наличии:
ГАВЛ.431260.024 ТБ.pdf передан 07.10.2016
Документ ГАВЛ.431260.024 ТБ предоставлен участником портала.
Варианты получения документа ГАВЛ.431260.024 ТБ:
Приобретите доступ к документу ГАВЛ.431260.024 ТБ
Стоимость услуги - 360,00р.

Обратите внимание на возможность приобрести доступ к 10 документам за 4000р.
или получить документ бесплатно по обмену.

Если Вы обладаете новыми изменениями к документу ГАВЛ.431260.024 ТБ, не указанными в карточке, Вы можете передать их в библиотеку и принять участие в программе обмена документами (получить ответный доступ к двум документам).
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Copyright © 2006-2025, All rights reserved.
Rambler's Top100