Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система

Форма для связи

Последние поступления

ТУ 84-585-75

ТУ 24.05.05.054-91

ТУ 6-36-5800146-716-90

Всего доступных документов: 70567

Новые поступления: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Добавить документ

Ваше положение в каталоге нормативных документов:

КГС

Электронная техника. Радиоэлектроника и связь - Каталог ГОСТ

Э0 - Общие правила и нормы по электронной технике, радиоэлектронике и связи

Э1 - Радиотехнические материалы

Э2 - Элементы радиоэлектронной аппаратуры

Э3 - Аппаратура и оборудование для радиовещания и телевидения

Э4 - Аппаратура записи и воспроизведения информации

Э5 - Аппаратура и оборудование связи

Э6 - Машины электронные вычислительные, устройства и приборы к ним

Э7 - Технологическое и контрольно-испытательное оборудование для изготовления и контроля качества изделий радиоэлектроники

Страницы: 1 ... 9 10 11 12 13 ... 103

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49

...

53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103

ГОСТ 18986.17-73 [13.08.2007]	Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации.
ГОСТ 18986.18-73 [13.08.2007]	Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости.
ГОСТ 18986.19-73 [13.08.2007]	Варикапы. Методы измерения добротности.
ГОСТ 18986.20-77 [13.08.2007]	Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим.
ГОСТ 18986.21-78 [13.08.2007]	Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации.

ГОСТ 18986.22-78 [13.08.2007]	Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления.
ГОСТ 18986.23-80 [14.08.2007]	Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума.
ГОСТ 18986.24-83 [14.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения.
ГОСТ 18986.3-73 [10.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
ГОСТ 18986.4-73 [13.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости.
ГОСТ 18986.5-73 [13.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения.
ГОСТ 18986.6-73 [13.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления.
ГОСТ 18986.7-73 [13.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда.
ГОСТ 18986.8-73 [11.04.2011]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления.
ГОСТ 18986.9-73 [13.08.2007]	Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления.

ГОСТ 19095-73 [10.09.2007]	Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров.
ГОСТ 19098-87 [15.09.2008]	Графопостроители для электронных вычислительных машин. Общие технические условия.
ГОСТ 19104-88 [03.08.2007]	Соединители низкочастотные на напряжение до 1500 В цилиндрические. Основные параметры и размеры.
ГОСТ 19138.0-85 [01.08.2007]	Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров.
ГОСТ 19138.1-85 [01.08.2007]	Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения.

Страницы: 1 ... 9 10 11 12 13 ... 103

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49

...

53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103

Авторизоваться в системе:

Логин	Пароль(забыли?)

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.


	Copyright © 2006-2024, All rights reserved.