Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система

Форма для связи

Последние поступления

ТУ 6-36-5800146-716-90

ТУ 6-10-1903-83

Всего доступных документов: 70573

Новые поступления: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Добавить документ

Ваше положение в каталоге нормативных документов:

КГС

Каталог ОСТ

А - Горное дело. Полезные ископаемые

Б - Нефть и нефтяные продукты

В - Металлы и металлические изделия

Г - Машины, оборудование и инструмент

Д - Транспортные средства и тара

Е - Энергетическое и электротехническое оборудование

Ж - Строительство и строительные материалы

И - Силикатно-керамические и углеродные материалы и изделия

К - Лесоматериалы. Изделия из древесины

Л - Химические продукты и резиноасбестовые изделия

М - Текстильные и кожевенные материалы и изделия

Н - Пищевые и вкусовые продукты

П - Измерительные приборы. Средства автоматизации и вычислительной техники

Р - Здравоохранение. Предметы санитарии и гигиены

С - Сельское и лесное хозяйство

Т - Общетехнические и организационно-методические стандарты

У - Изделия культурно-бытового значения

Ф - Атомная техника

Э - Электронная техника. Радиоэлектроника и связь

Страницы: 1 ... 903 904 905 906 907 ... 2340

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49

...

880 881 882 883 884 885 886 887 888 889 890 891 892 893 894 895 896 897 898 899 900 901 902 903 904 905 906 907 908 909 910 911 912 913 914 915 916 917 918 919 920 921 922 923 924 925 926 927 928 929

...

2290 2291 2292 2293 2294 2295 2296 2297 2298 2299 2300 2301 2302 2303 2304 2305 2306 2307 2308 2309 2310 2311 2312 2313 2314 2315 2316 2317 2318 2319 2320 2321 2322 2323 2324 2325 2326 2327 2328 2329 2330 2331 2332 2333 2334 2335 2336 2337 2338 2339 2340

ОСТ 11-073.047-75	Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам.
ОСТ 11-073.048-75	Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностной концентрации ионизированных атомов примеси в полупроводнике и эффективного заряда в диэлектрике по тестовым МДП-транзисторам.
ОСТ 11-073.054-76	Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов.
ОСТ 11-073.063-76	Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах.
ОСТ 11-073.070-78	Микросхемы интегральные для наручных электронных часов. Методы контроля.

ОСТ 11-073.073-82	Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем.
ОСТ 11-073.807-82	Приборы электровакуумные. Система условных обозначений.
ОСТ 11-073.907-78	Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров.
ОСТ 11-073.917.1-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента усиления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.10-81	Микросхемы интегральные. Метод измерения общего времени установления выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.12-83	Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и ЭДС смещения нуля операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.2-79	Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.3-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и ЭДС смещения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.5-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения тока потребления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.9-81	Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей.

ОСТ 11-073.920-80	Микросхемы интегральные бескорпусные для устройств широкого применения. Общие технические условия.
ОСТ 11-073.923-81	Стабилизаторы напряжения и тока интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров.
ОСТ 11-073.925-81	Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Фотошаблоны. Промежуточные фотооригиналы. Метки базирования. Конструкция и размеры.
ОСТ 11-073.936-82	Микросхемы интегральные. Контроль автоматизированный. Термины и определения.
ОСТ 11-073.938.0-82	Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров. Общие требования.

Страницы: 1 ... 903 904 905 906 907 ... 2340

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49

...

880 881 882 883 884 885 886 887 888 889 890 891 892 893 894 895 896 897 898 899 900 901 902 903 904 905 906 907 908 909 910 911 912 913 914 915 916 917 918 919 920 921 922 923 924 925 926 927 928 929

...

Авторизоваться в системе:

Логин	Пароль(забыли?)

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.


	Copyright © 2006-2024, All rights reserved.