Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система

Форма для связи

Последние поступления

ТУ 6-36-5800146-716-90

ТУ 6-10-1903-83

Всего доступных документов: 70573

Новые поступления: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Добавить документ

Ваше положение в каталоге нормативных документов:

КГС

Элементы радиоэлектронной аппаратуры - Каталог ОСТ

Э20 - Классификация, номенклатура и общие нормы

Э21 - Резисторы и конденсаторы

Э22 - Электронные и ионные приборы

Э23 - Полупроводниковые приборы

Э24 - Радиокомпоненты

Э25 - Микроэлектроника

Э26 - Квантовая электроника

Э29 - Методы испытаний. Упаковка. Маркировка

Страницы: 1 ... 8 9 10 11 12 ... 44

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44

ОСТ 11-070.082-82	Приборы фоточувствительные. Классификация и система условных обозначений.
ОСТ 11-070.824-81	Экраны и конуса для кинескопов черно-белого телевидения. Конструкция и размеры.
ОСТ 11-070.900-77	Транзисторы. Конструкция деталей и сборочных единиц корпусов.
ОСТ 11-072.009-81	Наборы резисторов. Основные параметры.
ОСТ 11-073.047-75	Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам.

ОСТ 11-073.048-75	Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностной концентрации ионизированных атомов примеси в полупроводнике и эффективного заряда в диэлектрике по тестовым МДП-транзисторам.
ОСТ 11-073.054-76	Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов.
ОСТ 11-073.063-76	Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах.
ОСТ 11-073.073-82	Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем.
ОСТ 11-073.907-78	Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров.
ОСТ 11-073.917.1-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента усиления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.10-81	Микросхемы интегральные. Метод измерения общего времени установления выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.12-83	Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и ЭДС смещения нуля операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.2-79	Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.3-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и ЭДС смещения операционных усилителей.

ОСТ 11-073.917.5-79	Микросхемы интегральные. Методы измерения тока потребления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.9-81	Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.920-80	Микросхемы интегральные бескорпусные для устройств широкого применения. Общие технические условия.
ОСТ 11-073.938.0-82	Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров. Общие требования.
ОСТ 11-073.938.1-82	Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения коэффициента усиления.

Страницы: 1 ... 8 9 10 11 12 ... 44

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44

Авторизоваться в системе:

Логин	Пароль(забыли?)

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.


	Copyright © 2006-2024, All rights reserved.