Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система

Форма для связи

Последние поступления

ТУ 6-36-5800146-716-90

ТУ 6-10-1903-83

Всего доступных документов: 70573

Новые поступления: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ

Добавить документ

Ваше положение в каталоге нормативных документов:

КГС

Методы испытаний. Упаковка. Маркировка - Каталог ОСТ

Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

ОСТ 11-027.703-83	Микросхемы интегральные СВЧ. Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения неоднородности локальной диэлектрической проницаемости.
ОСТ 11-0290.0-86	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Общие требования при измерении параметров.
ОСТ 11-0290.1-86	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения напряжения насыщения и тока насыщения.
ОСТ 11-0290.2-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения неравномерности выходного сигнала.
ОСТ 11-0290.3-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения темнового сигнала и неравномерности темнового сигнала.

ОСТ 11-0290.5-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения коэффициента передачи модуляции.
ОСТ 11-0290.6-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения числа дефектов фоточувствительного поля.
ОСТ 11-0290.7-87	Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения чувствительности.
ОСТ 11-032.900-78	Структуры фосфида-арсенида галлия. Определение длины волны фотолюминесценции.
ОСТ 11-032.906-78	Полупроводниковые приборы. Измерение толщины пленок поликристаллического кремния на окисленной кремниевой подложке.
ОСТ 11-032.917-81	Структуры кремниевые и арсенид-галлиевые эпитаксиальные. Измерение толщины тонких эпитаксиальных слоев методом ИК-эллипсометрии.
ОСТ 11-032.920-82	Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире (КНС) на основе ИК-интерференции.
ОСТ 11-032.925-84	Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки.
ОСТ 11-0324-86	Трубки электронно-лучевые приемные и преобразовательные, приборы фотоэлектронные. Порядок проведения ускоренных испытаний на сохраняемость.
ОСТ 11-0330-86	Магнетроны. Методы ускоренных испытаний на безотказность, долговечность и гамма-процентный ресурс.

ОСТ 11-0344-86	Резисторы постоянные непроволочные и поглотители резистивные. Методы измерения коэффициента стоячей волны по напряжению.
ОСТ 11-0354-86	Магнетроны. Методы измерения электрических параметров.
ОСТ 11-0357-86	Транзисторы полевые. Методы установления предельно допустимых электрических режимов эксплуатации.
ОСТ 11-0377-87	Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Метод измерения верхней и нижней граничных частот.
ОСТ 11-0380-86	Резонаторы пьезоэлектрические. Методы измерения рассеиваемой мощности.

Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12

Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Авторизоваться в системе:

Логин	Пароль(забыли?)

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.

Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.


	Copyright © 2006-2024, All rights reserved.