1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Последние поступления
Всего доступных документов: 70311
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Методы испытаний. Упаковка. Маркировка - Каталог ОСТ
Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
ОСТ 11-027.703-83
Микросхемы интегральные СВЧ. Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения неоднородности локальной диэлектрической проницаемости.
ОСТ 11-0290.0-86
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Общие требования при измерении параметров.
ОСТ 11-0290.1-86
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения напряжения насыщения и тока насыщения.
ОСТ 11-0290.2-87
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения неравномерности выходного сигнала.
ОСТ 11-0290.3-87
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения темнового сигнала и неравномерности темнового сигнала.
ОСТ 11-0290.5-87
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения коэффициента передачи модуляции.
ОСТ 11-0290.6-87
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения числа дефектов фоточувствительного поля.
ОСТ 11-0290.7-87
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Метод измерения чувствительности.
ОСТ 11-032.900-78
Структуры фосфида-арсенида галлия. Определение длины волны фотолюминесценции.
ОСТ 11-032.906-78
Полупроводниковые приборы. Измерение толщины пленок поликристаллического кремния на окисленной кремниевой подложке.
ОСТ 11-032.917-81
Структуры кремниевые и арсенид-галлиевые эпитаксиальные. Измерение толщины тонких эпитаксиальных слоев методом ИК-эллипсометрии.
ОСТ 11-032.920-82
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире (КНС) на основе ИК-интерференции.
ОСТ 11-032.925-84
Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки.
ОСТ 11-0324-86
Трубки электронно-лучевые приемные и преобразовательные, приборы фотоэлектронные. Порядок проведения ускоренных испытаний на сохраняемость.
ОСТ 11-0330-86
Магнетроны. Методы ускоренных испытаний на безотказность, долговечность и гамма-процентный ресурс.
ОСТ 11-0344-86
Резисторы постоянные непроволочные и поглотители резистивные. Методы измерения коэффициента стоячей волны по напряжению.
ОСТ 11-0354-86
Магнетроны. Методы измерения электрических параметров.
ОСТ 11-0357-86
Транзисторы полевые. Методы установления предельно допустимых электрических режимов эксплуатации.
ОСТ 11-0377-87
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Метод измерения верхней и нижней граничных частот.
ОСТ 11-0380-86
Резонаторы пьезоэлектрические. Методы измерения рассеиваемой мощности.
Страницы: 1 2 3 4 5 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.
Copyright © 2006-2024, All rights reserved.
Rambler's Top100