1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Последние поступления
Всего доступных документов: 70633
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Методы испытаний. Упаковка. Маркировка - Каталог ОСТ
Страницы: 1 ... 3 4 5 6 7 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
ОСТ 11-073.047-75
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностного сопротивления диффузионных, эпитаксиальных и напыленных резистивных слоев по тестовым резисторам.
ОСТ 11-073.048-75
Микросхемы интегральные полупроводниковые. Метод измерения поверхностной концентрации ионизированных атомов примеси в полупроводнике и эффективного заряда в диэлектрике по тестовым МДП-транзисторам.
ОСТ 11-073.054-76
Приборы полупроводниковые. Методы контроля отсутствия коротких замыканий и обрывов.
ОСТ 11-073.063-76
Микросхемы интегральные. Выбор и определение допустимых значений параметров воздействующих технологических факторов при производстве радиоэлектронной аппаратуры на интегральных микросхемах.
ОСТ 11-073.073-82
Контроль неразрушающий. Методы контроля температуры биполярных транзисторов и интегральных микросхем.
ОСТ 11-073.907-78
Микросхемы интегральные микропроцессорные. Методы контроля электрических параметров.
ОСТ 11-073.917.1-79
Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента усиления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.10-81
Микросхемы интегральные. Метод измерения общего времени установления выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.12-83
Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и ЭДС смещения нуля операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.2-79
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.3-79
Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и ЭДС смещения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.5-79
Микросхемы интегральные. Методы измерения тока потребления операционных усилителей.
ОСТ 11-073.917.9-81
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости нарастания выходного напряжения операционных усилителей.
ОСТ 11-073.938.0-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров. Общие требования.
ОСТ 11-073.938.1-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения коэффициента усиления.
ОСТ 11-073.938.2-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения коэффициента шума.
ОСТ 11-073.938.3-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения коэффициента гармоник.
ОСТ 11-073.938.4-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Метод измерения тока потребления.
ОСТ 11-073.938.5-82
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения входного и выходного сопротивления.
ОСТ 11-073.940-83
Микросхемы интегральные. Стабилизаторы напряжения линейные. Методы измерения взаимной нестабильности по току.
Страницы: 1 ... 3 4 5 6 7 ... 12
Переход к странице:
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
|
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.
Copyright © 2006-2024, All rights reserved.
Rambler's Top100